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上约有 1 项符合光学表面分析的查询结果， 以下是第 1 - 1 项。 （搜索用时 0.781 秒）
据Semiconductor Reporter报道，KLA-Tencor Corp.近期发布了一款新型全面的粗糙度及微表面形态的测量检测设备，该设备可以有效的提高制造商的生产能力。 6300型光学表面分析系统可以提供行业内最宽的空间带宽覆盖，本底噪声低于0.05nm，该公司表示，6…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2006-09/2006915102629.htm -- 2006-9-15 0:00:00
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