近日，锦州硅材料及太阳能电池光伏产业基地公共检测中心在渤海大学成立。据介绍，该中心是在锦州市科技部门的指导下，由渤海大学和锦州市生产力促进中心以及锦州阳光能源控股有限公司、锦州华昌光伏科技有限公司、锦州新世纪石英玻璃有限公司共…

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For Dachau (near Munich)-based MatriX Technologies, this is a logical and consequent step towards building its position in the global x-ray inspection market. The manufacturer’s modern in-line solutions especially address the important Far Eastern electronic production market. MatriX is also intensifying its activities in the NDT are…

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EV Group (EVG), a leading supplier of wafer bonding and lithography equipment for the MEMS, nanotechnology and semiconductor markets, today introduced the NT series -- a new, yet already field-proven suite of mask aligners, wafer-to-wafer (W2W) bond aligners and measurement systems -- to address increased demand fo…

http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-12/2008122062708.htm -- 2008-12-2 0:00:00

日前，美国应用材料（Applied Materials Inc.,Santa Clara, Calif.）宣布推出针对穿透硅通孔（through-silicon via，TSV）应用的刻蚀系统Centura Silvia。同时，应用材料表示，正在发货掩膜检测系统Aera2，该系统可使掩膜的常规检测在晶圆厂内实施，而不用由掩膜供应…

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　　GE传感与检测科技在10月26日举行的世界无损检测大会上展出其在无损检测（NDT）解决方案领域的最新创新技术。产品包括第一台真正意义上的手持式工业视频内窥镜XL Go、特别为NDT领域开发的计算机涉嫌成像扫描仪CRx Flex、Phasec 3系列便携式…

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GE传感与检测科技将在世界无损检测大会（WCNDT，10月26至28日）的1152号展台展出其在无损检测（NDT）解决方案领域的最新创新技术。本次展览中展出的，特别引人注目的一系列GE产品包括：第一台真正意义上的手持式工业视频内窥镜XL Go、CRx Fl…

http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-10/20081030052231.htm -- 2008-10-30 0:00:00

GE传感与检测科技将在世界无损检测大会（WCNDT，10月26至28日）的1152号展台展出其在无损检测（NDT）解决方案领域的最新创新技术。本次展览中展出的，特别引人注目的一系列GE产品包括：第一台真正意义上的手持式工业视频内窥镜XL Go、CRx Fl…

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凌力尔特公司 (Linear Technology Corporation) 推出宽带 6GHz RMS 检测器 LT5581，该器件具有 40dB 动态范围和 1.4mA 低工作电源电流。LT5581 非常适合于便携式和由电池供电的无线系统、蜂窝基站、微微蜂窝和毫微微蜂窝、光纤发送器以及仪表中的多种电源监视…

http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-10/2008107044417.htm -- 2008-10-7 0:00:00

KLA-Tencor 公司Surfscan? SP2XP是一套专供集成电路 (IC) 市场采用的全新控片检测系统，该系统对硅、多晶硅和金属薄膜上的缺陷灵敏度更高，在按缺陷类型和大小来分类方面具有更强能力。其特性还包括真空承载装置和业界最佳的生产能力。新系统还提供…

http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-09/2008929095312.htm -- 2008-10-1 0:00:00

　　基于设计的分级将来自设计数据的版图信息与检测到的每个缺陷的相对位置结合起来，利用这种方法可提高缺陷帕雷托质量。通过对系统缺陷和有害缺陷进行分级，可以改进SEM检测。 　　前沿工艺技术的亮场缺陷检测结果通常具有非常高的缺陷数目，…

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KLA-Tencor 公司日前推出了 Surfscan® SP2XP，这是一套专供集成电路 (IC) 市场采用的全新控片检测系统，该系统是根据去年在晶片制造市场上推出并大获成功的同名姊妹机台开发而成。全新的 Surfscan SP2XP 对硅、多晶硅和金属薄膜上的缺陷灵敏度更高，且…

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凌力尔特公司 (Linear Technology Corporation) 推出 2A 集成式热插拔 (Hot SwapTM) 控制器 LTC4217，该器件用于保护负载电源电压范围为 2.9V 至 26.5V 的低功率电路板。像其它热插拔器件一样，通过限制加电时负载电源的浪涌电流，LTC4217 允许电路板安全地从带电…

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　　Fab经理需要可以用来检测有害气体的设备，他们倾向于使用那些反应速度快，敏感度高，稳定性强且能够显而易见地呈现出有害气体存在的证据的测试设备。 　　新的技术节点上正涌现出越来越多的新材料，来满足IC性能的要求，半导体晶圆厂（fab）…

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KLA-Tencor日前宣布，正在达成一项协议，以收购Vistec Semiconductor Systems旗下的微电子检测设备（MIE）业务。具体的交易细节尚未公布。Vistec的MIE部门是其3个三个业务部之一，Vistec Semiconductor Systems前身是莱卡微系统，2006年3月更名为Vistec。KL…

http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/200881053304.htm -- 2008-8-1 0:00:00

Rudolph Technologies, Inc. (NASDAQ: RTEC), a worldwide leader in process characterization solutions for the semiconductor manufacturing industry, today announced the sale of an NSX® Inspection System and Discover™ in-line defect analysis and data management software to Micronas, a leading supplier of int…

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