|
随着存储器需求的增加以及制造技术的进步，嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比，嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构，并介绍各种DFT（可测性设计）测试技术…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-09/2008929094833.htm -- 2008-10-1 0:00:00
|
|
随着封装间距尺寸缩小到0.4 mm以下，测试插座行业遇到了电学和机械方面的问题。主要的挑战包括封装尺寸增大，这意味着有更多的I/O要测试。增加了测试要求，且信号完整性问题进入了混合状态。可见新材料、设计和接触技术对于继续缩小至更小间…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-09/2008929094041.htm -- 2008-10-1 0:00:00
|
|
以提供测试仪器租赁服务的内地知名企业东方集成日前决定在北京、上海、苏州、成都、天津、武汉、深圳七个城市举办主题为“低成本测试和科技租赁方案巡展”系列活动，具体时间在9月-10月期间。 东方集成近年来一直致力于为通讯电子、现代制造业、研…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-09/2008918030914.htm -- 2008-9-18 0:00:00
|
|
N9201A是一种阵列式结构参数测试选件，对阵列测试结构提供高效率的测试，减少工程师们优化工艺参数和最大化成品率所需的时间。与该公司的4070结合使用时，可创建一种支持总数多达40个通道的每通道源/监测单元（SMU）结构。这就可以极其快速地…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-09/2008916032100.htm -- 2008-9-16 0:00:00
|
|
首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司日前宣布，提供测试工程设计解决方案和服务的领导服务提供商--SiTest Solutions公司已经选择惠瑞捷V5000系列作为闪存测试平台。V5000e将允许SiTest Solutions在不断扩大的一系列功能中增加NAND闪存测…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-09/200898114106.htm -- 2008-9-8 0:00:00
|
|
首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司日前宣布，全面提供IC设计、测试和培训服务的机构——苏州中科集成电路设计中心(SZICC)已经采用惠瑞捷V93000 SoC测试仪器。该中心将使用这一系统，满足数量不断扩大的本地设计（Fabless）公司…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-09/200891094100.htm -- 2008-9-1 0:00:00
|
|
随着存储器需求的增加以及制造技术的进步，嵌入式存储器在SOC系统中的地位越来越重要。与传统的分立存储器件测试相比，嵌入式存储器的测试呈现出新的挑战。本文试图全面叙述嵌入式存储器的各种结构，并介绍各种DFT（可测性设计）测试技术，如 …
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/2008830070707.htm -- 2008-9-3 0:00:00
|
|
在测试、组装和封装TechXPOT的“成品率管理”分会上，很多与会者展示了降低不断飞升的测试成本的重要性。总的来说，与会者都能就下述观点达成一致，即随着芯片复杂性的不断提高以及器件平均售价（ASP）的不断降低，测试环节的难度以及成本变…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/2008830065712.htm -- 2008-9-2 0:00:00
|
|
半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(Verigy)日前宣布，全面提供IC设计、测试和培训服务的机构——苏州中科集成电路设计中心(SZICC)已经采用惠瑞捷V93000 SoC测试仪器。该中心将使用这一系统，满足数量不断扩大的本地设计(Fabless)公司的测试需…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/2008827045048.htm -- 2008-8-27 0:00:00
|
|
新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利（Keithley）仪器公司，凭借其推出的业界第一款测量级8×8 MIMO系统进一步扩大其在射频MIMO（多输入多输出）测试领域的领先地位。该系统适用于下一代射频MIMO器件与技术的基础性研究。吉时利在2007年末推…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/2008827105543.htm -- 2008-8-27 0:00:00
|
|
国际标准、编程和定制互连产品制造商Aries Electronics不久前发布了其新型芯片级封装（CSP）/微型球栅阵列测试与预烧插槽，可适应的最大设备尺寸是6.5平方毫米，并能够理想地对CSP、微型球栅阵列、数字信号处理器（DSP）、岸面栅格列阵（LGA）、静…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/2008825042716.htm -- 2008-8-25 0:00:00
|
|
Eagle Test Systems日前宣布，江苏长电科技股份有限公司（长电科技）已为其新工厂购买了多台 Eagle ETS-200 和 ETS-364 模拟和混合信号测试仪，以提高该公司对其现有客户和新客户所要求的各类产品的测试能力。 长电科技总裁王新潮表示，“Eagle的测…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/200887105307.htm -- 2008-8-11 0:00:00
|
|
全球领先的测试和认证机构CSA International近日宣布与VDE签订了互惠产品测试协议，CSA International将代表VDE为北美和亚洲客户出口至欧洲市场的产品提供测试服务。根据互惠协议，VDE同样也可代表CSA International根据北美标准对产品进行测试。这些合…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/200887060356.htm -- 2008-8-7 0:00:00
|
|
台湾日月光半导体制造股份有限公司(Advanced Semiconductor Engineering Inc., ASX, 简称：日月光半导体)的一位管理人士周一表示，公司正在与日本东芝公司(Toshiba Corp., 6502.TO)等主要NAND芯片制造商谈判，计划提供芯片测试封装服务。 这位不愿具名的管理人…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/200884044144.htm -- 2008-8-5 0:00:00
|
|
Multitest公司日前宣布，其最新的测试插槽产品nanoKelvin被一家国际IDM公司评选为“测试插槽选择奖”（“test socket of choice” ）。Multitest nanoKelvin产品拥有标准系列，同时也可以进行插入电路板设计，适合小的焊盘尺寸，如CSP、QFN、SO和QFP. Multitest’s latest t…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-08/200881033142.htm -- 2008-8-1 0:00:00
|