网页
上约有 3 项符合3-D分析的查询结果, 以下是第 1 - 1 项。 (搜索用时 0.296 秒)
  尽管已经出现了多种工具和概念,但超浅结(USJ)的分析仍然是一个需要解决且无法避免的问题。“在测量方法学上,要夺得这一圣杯,你需要绘制出器件完整的3-D分布——包括掺杂和载流子,”IMEC工艺技术部门材料与元件分析组的负责人Wilfried Van…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-05/200852083700.htm -- 2008-5-4 0:00:00
总共 , 当前 /
《半导体国际》是全球半导体制造技术领域最权威、发行量最大的刊物, 已拥有超过二十五年的历史, 由全球领先的锐德出版集团出版。
请在下面的输入框中输入您的邮箱地址, 您每周收到由SI给您发送的行业最新咨讯 每周二次,完全免费!
  • 确 定