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上约有 2 项符合宏观缺陷检测的查询结果， 以下是第 1 - 2 项。 （搜索用时 0.75 秒）
Rudolph Technologies, Inc. (NASDAQ: RTEC), a worldwide leader in process characterization solutions for the semiconductor manufacturing industry, today announced the sale of an NSX® Inspection System and Discover™ in-line defect analysis and data management software to Micronas, a leading supplier of int…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-07/200871024436.htm -- 2008-7-1 0:00:00
　　Axi 940是全表面Explorer Inspection Cluster设备的一部分，主要用于对晶圆前表面的宏观缺陷检测。其智能软件可以自动完成很多操作员才能完成的任务，因而降低了配方准备的时间。Axi还可以在簇群其他部分仍处于运行状态时进行离线的配方准备。 Rudolph …
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-05/200852091216.htm -- 2008-5-4 0:00:00
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