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新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利(Keithley)仪器公司，日前发布最新推出2600A数字源表系列仪器。这类仪器具有无可比拟的易用性、出色的测量性能和灵活性，能够帮助用户加快产品的上市时间，降低测试成本，简化进行高性能测量过程。2600A系列…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-10/2008108034735.htm -- 2008-10-8 0:00:00
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新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利（Keithley）仪器公司，日前发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI（吉时利交互式测试环境）V7.1版。经过此次软件升级之后，KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样，4200-SCS就…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-07/2008729014901.htm -- 2008-7-29 0:00:00
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新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利（Keithley）仪器公司，日前宣布增强了其ACS（Automated Characterization Suite，自动特征分析套件）软件，纳入了面向半导体可靠性与寿命预测测试应用的WLR（wafer level reliability，圆片级可靠性）备选测试工具。4.0版…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-04/2008430034755.htm -- 2008-4-30 0:00:00
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4200-SCS半导体特性分析用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析，具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了最先进的系统集成能力，包括完整的嵌入式PC机，WindowsNT操作系统与大容量存储器。4200-SCS 为模块化结构配置非常灵活。系统最…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-03/2008313054922.htm -- 2008-3-13 0:00:00
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新兴测量需求解决方案领导者美国吉时利（Keithley）仪器公司，日前宣布将与Stratosphere Solutions公司（Sunnyvale, CA）合作。Stratosphere Solutions致力于面向集成电路制造提供能够提高工艺参数成品率的新型解决方案。吉时利与Stratosphere Solutions合作后将采…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2008-02/2008218013835.htm -- 2008-2-18 0:00:00
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Credence宣布：香港科技园(HKSTP)在其已有的一系列科利登诊断、工程验证、特征分析及测试仪系统的基础上，增加了激光调试和先进的发射显微镜，进一步完善其特征分析产品系列。这些新技术可以为香港科技园提供一个完整的失效分析实验室，从而能…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2006-04/2006418013924.htm -- 2006-4-18 0:00:00
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