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上约有 2 项符合
边缘缺陷
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监测基于浸没式光刻的晶圆
边缘缺陷
与浸没液、光刻胶和顶部涂层的相互作用,以及边缘水珠去除工艺有关的缺陷都会影响到工艺成品率。自动边缘检查揭示出几种浸没式光刻所特有的缺陷模式。 自动边缘检测揭示出几种浸没式光刻所特有的缺陷模式。与浸没液的行为、光刻胶和顶部…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2007-06/2007615102930.htm -- 2007-6-19 0:00:00
晶圆
边缘缺陷
的系统探测与分类
边缘缺陷率已成为器件制造的重要问题,然而相当多的器件制造商认为,目前对晶圆边缘进行检测的能力还远远不够。虽然有些解决方案的表现还不错,但是它们似乎主要针对的是晶圆制造商,重点关注的是晶圆上的碎片和裂缝等物理损伤。 而IC制…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2007-02/200728102829.htm -- 2007-2-9 0:00:00
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