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上约有 1 项符合工艺成品率的查询结果， 以下是第 1 - 1 项。 （搜索用时 0.406 秒）
Philips Advanced Metrology Systems (AMS) 宣布他们通过"SurfaceWave"技术提高了铜/低k半导体的成品率。The division of Royal Philips Electronics said this comes from an advance in the ability to non-destructively measure stiffness and density of low-k dielectric films. Traditional processes relied on nanoindenta…
http://www.sichinamag.comhttp://article.sichinamag.com/2003-10/200611214304569878.htm -- 2003-10-9 0:00:00
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