首页晶圆工艺 清洗 > 详细内容

[视频]朱林:未来的晶圆清洗技术.

   2006-09-05   点击:423

Incoming Wafer Cleaning

未来的晶圆清洗技术

Semitool, Inc,朱林  

·即将来临的晶圆清洗作为芯片制造的起始工艺,对于生产先进的半导体器件至关重要。晶圆清洗去除污染物,为随后的淀积和离子植入进行表面预处理。

·清洗技术向先进的单晶圆清洗迈进,需要更新的工艺考虑。

·可以在高产、短工艺时间内实现超低污染微粒和低的DWO Haze值;化学清洗剂浓度对DWO Haze值产生影响。


《半导体国际》第三届晶圆清洗技术研讨会上,Semitool的朱林博士做演讲:未来的晶圆清洗技术.朱林,1985年获得清华大学电子工程硕士学位;1987-1989年以合作研究的身份就读于德国慕尼黑科技大学;1995年获得美国蒙大拿州立大学物理学博士学位;1996-2002年,在Tosoh SMD Inc.公司担任项目工程师和技术开发经理;2002-2005年担任台湾Tosoh SMD 公司LTD总经理;2005年至今,担任Semitool大中华区销售主管。

 

相关视频:

1. 《半导体国际》出版总监张未名致开幕词

2. 表面预处理

技术的蓝图及挑战

3. 高的区域化学过滤器获得低压降下的高流量和纳米级微粒保持

4. 关于深槽电容式DRAM深沟槽光阻去除工艺的研究

5. 未来的晶圆清洗技术

6. 65nm和45nm工艺节点中全湿法、无灰化的光阻去除技术

7. 铜/低K介质互连工艺的后刻蚀清洗技术

8. 后金属和通孔聚合物去除技术的挑战和解决方案

9. 半导体清洗应用中的刻蚀残渣去除剂和光阻去胶机

10.先进设计规则下FEOL湿法处理工艺

11.45nm及更高工艺节点中创新的单晶圆水干燥能力

12.WSix淀积预清洗工艺的优化

复制链接
相关文章